AFG31252任意函数波形发生器 (双通道 250MHz)
概述
验证连接 DUT 后输出波形
技术用在任意波函数发生器上可直接查看连接 DUT 后的实时波形，无需使用示波器或其他设备，节省测试时间并避免因阻抗不匹配导致的实验错误。
高保真度信号与高级模式
在连续模式下每通道可以生成长达 16 M 点的xx长波形。 可变采集时钟技术确保您不再丢失任何波形数据。
选配功能升级
将内存扩展为每通道 128 M 点（选件 MEM）
多达 25 项输入和控制的序列/触发/选通模式（选件 SEQ）用于：循环、等待、跳转、转至、外部触发输入、手动触发、定时触发和 SCPI 命令，以便创建时序灵活、复杂的长波形。
简化任意波形创建
内置的 ARB 编辑工具 ArbBuilder 包括创建、编辑和传输任意波形的所有操作，无需连接 PC 或向 PC 传输文件。幅度和偏置数据存储在波形中，因此，在加载标准化 ARB 后，无需调整设置。
智能用户界面
使用市场中的较大 AFG 触摸屏更快地学习和工作。9 英寸的屏幕的工作原理和智能设备类似，因此，可以通过手指缩放和滚动以便轻松找到设置和参数并查找常用设置的快捷键。
不止需要两条通道
如果不止需要两条波形通道来模拟被测设备 (DUT)，多台同步设置用于快速同步两台或多台设备。通过屏幕向导信息指导，在三分钟内完成电缆连接和设置过程。
优异的指标
单或双通道型号
接到 50Ω 负载时的输出幅度范围 1 mVp-p 至 10 Vp-p
基本 (AFG) 模式
25 MHz、50 MHz、100 MHz、150 MHz 或 250 MHz 正弦波形
250 MSa/s、500 MSa/s、1 GSa/s 或 2GSa/s 采样率
14 位垂直分辨率
连续、调制、扫描与突发模式
各通道均具有 128 k 点的任意波形内存
高级模式
连续模式和选配序列、触发和选通模式
各通道均具有 16 M 点的任意波形内存（可选 128 M 点）
在包含循环、调整和等待事件的序列模式下多达 256 步
变量采样时钟 1 ?Sa/s 至 2 GSa/s
最小波形长度 168 点，粒度为 1 点
将噪声和抖动降低 10 倍
由于噪音本底较低且输出幅度低至 1mVpp，噪音和抖动技术规格比上一代技术好 10 倍，可以确保测试的清晰度和保真度。
技术避免在阻抗不匹配的 DUT 上增加的波形不确定性